Панель задняя для шкафа RAM BLOCK CQE 1800х1000 ДКС
нет в наличии
Доставка 5-7 дней:
11 шт.
Поставка 7-14 дней:
241 шт.
Бесплатная доставка по Екатеринбургу и до ТК при заказе от 3000 ₽.
Доставка по России
- Производитель: DKС - ДКС
- Код товара: R5CRE18100-01
- Артикул: R5CRE18100
- Ом код: 025-899
Основные характеристики
Все характеристики
Brand:
DKC
Высота:
1800
Материал:
Сталь
Подходит в качестве боковой панели:
Нет
Подходит в качестве задней панели:
Да
"RAM block" – система универсальных металлических корпусов – сварных и сборных, а также стоек управления. Во внутреннем пространстве шкафов размещается оборудование для систем автоматизации, мониторинга, управления, релейной защиты. Шкафы надежно предохраняют размещенные внутри устройства от внешних воздействий. Корпуса изготовлены из прочной стали толщиной 1,2 – 1,5 мм. Это позволяет размещать внутри тяжелое оборудование и обеспечивает степень ударопрочности IK 10. Двери выполняются из металла толщиной 1,5 – 2 мм. На внутреннюю сторону двери наносится покрытие из вспененного полиуретана, который повышает качество герметизации.
Задние панели устанавливаются в шкафы DAE и CQE для ограничения доступа к оборудованию. Размеры панели: 1800х1000 мм.
Панель задняя для шкафа RAM BLOCK CQE 1800х1000 ДКС арт: R5CRE18100 приобрести в интернет - магазине Электро ОМ
Характеристики
Brand
DKC
Высота
1800
Материал
Сталь
Подходит в качестве боковой панели
Нет
Подходит в качестве задней панели
Да
С замком
Нет
С кабельным вводом
Нет
Тип поверхности
С порошковым покрытием
Цвет
Серый
Цвет RAL
7035
Ширина
1000
Заказать товар:
Через форму заказа на сайте
По телефонам:
- +7 (3452) 57-83-34 Тюмень
Отправить на заявку на электронную почту:
Мы осуществляем отправку по РФ - СДЭК, Деловые линии, КИТ, Собственным транспортом (2 и 5 тн)
Бесплатная доставка по Екатеринбургу при сумме от 3000 руб - карта в разделе оплата и доставка
Документы
certificate |
certificate |
Страница каталога |
Кастомизация |
Сертификаты
Протокол испытаний на непрерывность цепи защиты для шкафов серий CQE | |
Протокол испытаний |